產品說明
-----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------日本柳下技研旗艦機種,全機日本研發製造,FA、VG、MT 三合一全自動量測設備
用於檢測Core pitch位置偏差和形狀量測,可謂業界指標的專用機款!
全自動化及高品質的檢測,使得客戶於初期製程中便能掌控品質,節省不必要的生產成本
也能將人為誤差最小化,操作易上手,在量產階段帶來十足的便利性!
可應用於2D FA (2D Fiber Array)、2D Matrix Fiber Array 、矽光子(Silicon Photonics)、PLC(Planar Lightwave Circuit)、AWG(Arrayed Waveguide Grating)、光模塊(transceiver)、CPO (Co-packaged optics光電共封裝)、800G、1.6TG等產品。
▶超高量測效率:1.0~2.5秒/core
▶超高精度:雷射精準判定,平台最小移動單位為0.001um
▶超高再現性:業界最高水平3 sigma ≦0.1 um (量測10回)
▶高品質:全機日本研發、生產、製造! 優良品質無可挑剔!
▶高應用靈活性:除標準光纖產品外,其他特殊光纖產品亦可進行檢測(例:PM Fiber, 2D Fiber, 斜面FA…等)
用於檢測Core pitch位置偏差和形狀量測,可謂業界指標的專用機款!
全自動化及高品質的檢測,使得客戶於初期製程中便能掌控品質,節省不必要的生產成本
也能將人為誤差最小化,操作易上手,在量產階段帶來十足的便利性!
可應用於2D FA (2D Fiber Array)、2D Matrix Fiber Array 、矽光子(Silicon Photonics)、PLC(Planar Lightwave Circuit)、AWG(Arrayed Waveguide Grating)、光模塊(transceiver)、CPO (Co-packaged optics光電共封裝)、800G、1.6TG等產品。
▶超高量測效率:1.0~2.5秒/core
▶超高精度:雷射精準判定,平台最小移動單位為0.001um
▶超高再現性:業界最高水平3 sigma ≦0.1 um (量測10回)
▶高品質:全機日本研發、生產、製造! 優良品質無可挑剔!
▶高應用靈活性:除標準光纖產品外,其他特殊光纖產品亦可進行檢測(例:PM Fiber, 2D Fiber, 斜面FA…等)
機型
|
YGN-590-FAVGMT |
量測對象
|
光纖陣列 Fiber Array 、
|
雷射干涉儀
|
X軸位置檢測 X axis pitch direction
|
顯微鏡
|
無限光學物鏡 Infinite Optical System
|
CMOS鏡頭
|
2464 X 2056 pixel |
工件台
|
X軸 100mm行程 X axis 100mm stroke
|
控制PC
|
Windows 10 |
量測解析度
|
0.01 micron |
量測再現性
|
3sigma ≦0.1 micron |
MT 量測 MT Measurement | |
1.次元配列MT
2.次元配列MT
|
① Pitch Error XY距離 XY Distance ② X Difference X距離 X Distance ③ Y Difference Y距離 Y Distance ④ Guide Pitch G1至G2的距離 Distance from G1 to G2 ⑤ Diameter F穴徑 F-Hole Diameter ⑥ Guide Diameter G穴徑 G-Hole Diameter *以G1和G2之間距離的中心為測量的基準 *f-hole Pitch顯示與設計値的誤差值 *G-hole Pitch顯示實際測量數值 |
FA 量測 FA Measurement | |
|
① Pitch Error XY Core Pitch距離 XY Core Pitch Distance ② X Difference X Core Pitch距離 X Core Pitch Distance ③ Y Difference Y Core Pitch距離 Y Core Pitch Distance ④ Diameter Core直徑 Core Diameter * Pitch顯示與設計値的誤差值 |
VG 量測 VG Measurement | |
|
① Pitch Error XY距離 XY Distance ② X Difference 將X距離-1通道為測量x distance的基準 X Distance ③ Single X Difference 將X距離-旁邊通道為測量Single X distance的基準 Single X Distance ④ Y Difference Y距離 Y Distance ⑤ Angle V溝角度 Angle ⑥ Core Depth 從基板的正面到假想圓正面的高度 Distance from core top to board top ⑦ Groove Width V溝寬 V Width ⑧ Groove Depth V溝高 V Depth *Pitch顯示與設計値的誤差值 |
規格
機型
|
YGN-590-FAVGMT |
量測對象
|
光纖陣列 Fiber Array 、
|
雷射干涉儀
|
X軸位置檢測 X axis pitch direction
|
顯微鏡
|
無限光學物鏡 Infinite Optical System
|
CMOS鏡頭
|
2464 X 2056 pixel |
工件台
|
X軸 100mm行程 X axis 100mm stroke
|
控制PC
|
Windows 10 |
量測解析度
|
0.01 micron |
量測再現性
|
3sigma ≦0.1 micron |
應用
MT 量測 MT Measurement | |
1.次元配列MT
2.次元配列MT
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① Pitch Error XY距離 XY Distance ② X Difference X距離 X Distance ③ Y Difference Y距離 Y Distance ④ Guide Pitch G1至G2的距離 Distance from G1 to G2 ⑤ Diameter F穴徑 F-Hole Diameter ⑥ Guide Diameter G穴徑 G-Hole Diameter *以G1和G2之間距離的中心為測量的基準 *f-hole Pitch顯示與設計値的誤差值 *G-hole Pitch顯示實際測量數值 |
FA 量測 FA Measurement | |
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① Pitch Error XY Core Pitch距離 XY Core Pitch Distance ② X Difference X Core Pitch距離 X Core Pitch Distance ③ Y Difference Y Core Pitch距離 Y Core Pitch Distance ④ Diameter Core直徑 Core Diameter * Pitch顯示與設計値的誤差值 |
VG 量測 VG Measurement | |
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① Pitch Error XY距離 XY Distance ② X Difference 將X距離-1通道為測量x distance的基準 X Distance ③ Single X Difference 將X距離-旁邊通道為測量Single X distance的基準 Single X Distance ④ Y Difference Y距離 Y Distance ⑤ Angle V溝角度 Angle ⑥ Core Depth 從基板的正面到假想圓正面的高度 Distance from core top to board top ⑦ Groove Width V溝寬 V Width ⑧ Groove Depth V溝高 V Depth *Pitch顯示與設計値的誤差值 |